Keysight, Test

Soluciones para las pruebas in-circuit.

Con más de 30 años dentro de la industria de Tecnología de la Información y Comunicación (TIC), Keysight reúne las mejores soluciones para mejorar la cobertura y rendimiento para las pruebas in-circuit y funcionales, obteniendo el mayor ROICs en el mercado.

Equipos líderes dentro de la industria para la obtención de un mejor rendimiento.

Productos Keysight

E9903E 4-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5

Equipo con la mayor cobertura de recuento de nodos dentro de la familia i3070 Serie 5 con 5,184 nodos, manteniendo la transportabilidad, confiabilidad y estabilidad, incluida la capacidad de probar voltajes bajos.

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E9905E 2-Module In-Circuit Test (ICT) System, i307x Series 5

Equipo diseñado para resolver las necesidades y retos de los fabricantes de productos electrónicos convencionales con requisitos de prueba in-circuit en un cabezal de prueba tamaño reducido.

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E9905EL InLine 3-Module In-Circuit Test System, i337x Series 5i

Conserva la popular y patentada tecnología de fijación con cables cortos, utilizada en los incondicionales sistemas Keysight 3070 e i3070. La instalación de alambre corto elimina el ruido y el deterioro de la estabilidad de la prueba.

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U9405A Medalist i1000D Small Foot Print Online and Offline In-Circuit System

Anticipando la dinámica de costos en la fabricación de PCBA, los ICT i1000D de Keysight en línea automatizadas te ayudan a acelerar la producción, al tiempo que garantizan la calidad de tus productos.

Este equipo ICT se puede cambiar entre configuraciones en línea y fuera de línea, lo que protege tu inversión. Actualiza también los accesorios de prueba reutilizándolo a formato On-line.

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U9403A Mini In-Circuit Test System

Prueba in-circuit que puedes utilizar de forma independiente o integrada. Viene con un conjunto de características de prueba, desde la prueba sin vector CTEP, Cover-Extend Technology, hasta pruebas digitales y boundary scan.

Los comandos estándar de SCPI del instrumento facilitan el trabajo con otros instrumentos y secuenciadores de prueba externos bajo la arquitectura IVI VISA.

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Los sistemas funcionales te ayudan a llevar tus productos al mercado más rápido al acelerar la implementación del sistema de prueba. Utiliza arquitectura común e instrumentación central para ofrecer la máxima flexibilidad para mantenerte al día con los cambios dinámicos de la industria electrónica automotriz.

U8972A Venturi SIII: TS-5400 High Performance PXI Functional Test System with Mac Panel Interface

Proporciona control en la industria automotriz y aeroespacial, gracias a su plataforma de hardware y software PXI estándar con soporte para pruebas DUT únicas o múltiples. Diseñada para probar el control electrónico de módulos, electrónica corporal compleja, entre otros.

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TS-5020 Lincoln: Automotive Electronics Functional Test System

Sistema de prueba escalable y de bajo costo diseñado con el concepto de “prueba suficiente” para los módulos de control electrónico de complejidad media, tales como TPMS, RKE y módulos electrónicos corporales.

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TS – 5040 Mercury: Functional Test System

Sistema de prueba rentable, robusto y confiable, te ofrece el menor costo de propiedad; su arquitectura abierta Test Exec SL te brinda la flexibilidad de hacer casi cualquier cosa dentro de proceso.

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TS-8989 ViperR: PXI Functional Test System

Proporciona un sistema de medición, conmutación y carga basado en PXI rentable en una caja que admite hasta 104 nodos de prueba y cargas actuales de hasta 40 A.

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Mini SLU E6218

Versión reducida del E6198A, te ofrece ranuras de hasta 6 tarjetas enchufables, todas las tarjetas de plug-in disponibles son totalmente compatibles para mainframe 21 y 6 ranuras.

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Boundary Scan es un método que se utiliza para probar interconexiones (líneas de cable) en placas de circuito impresos o sub-bloques dentro de un circuito integrado; es utilizado también como método de depuración para observar estados de pines del circuito integrado, medir el voltaje o analizar sub-bloques.

N1125A x1149 Boundary Scan Analyzer

Herramienta para que tu equipo de ingenieros realice pruebas estructurales, como pruebas de apertura y cortocircuito en sus PCBA; realiza la programación dentro del sistema para dispositivos como FPGA y CPLD.

Especificaciones:

  • 4 puertos de acceso de prueba (TAP).
  • 22.5 MHz TCK (TestClock).
  • 9 entradas / Salida de propósito general (GPIO) por TAP.
  • Tecnología Cover-Extend: cobertura de prueba rápida en componentes sin exploración.

Características: 

  • La mejor interfaz de usuario de su clase.
  • Monitoreo de voltaje.
  • Reporte de falla de nivel de pin procesable.
  • Programación en el sistema.

Aplicaciones:

  • Enlazador de ruta de exploración integrada.
  • Validación gratuita de Boundary Scan Description Language (BSDL).
  • Admite la tecnología Intel® Silicon Viel (Intel® SVT).
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